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    ZMP-960晶体出现率分析仪

    ZMP-960晶体出现率分析仪是工作原理是通过专用高分辨率 CCD 线性传感器和显微光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离的颗粒边界搜索算法，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数，并通过显示器和打印机输出。

    更新时间

    2025-04-15

    厂商性质

    生产厂家

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