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大颗粒计数粒度分析仪

产品简介：
ZMS850大颗粒计数粒度分析仪系统是采用图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的颗粒分析系统。其工作原理是通过专用高分辨率CCD线性传感器和光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及很强的颗粒边界搜索算法，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数。

Name: 大颗粒计数粒度分析仪ZMS850
Brand: 其他品牌
Availability: InStock

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详细介绍

产品特点：

ZMS850大颗粒计数粒度分析仪具有大测量范围及高分辨率，同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。是目前能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的新型大颗粒粒度分析仪器。

技术参数：

测量范围：5μm ～ 100mm

重复性误差：<3%

等效粒径：等面积圆、等周长圆、等效短径、等效长径、等效椭圆短轴、等效宽度、等效长度、等效正六边形短轴、等效正六边形长轴。

粒度统计：体积、面积、颗粒、数量统计

形状参数：圆度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度

测量方式：干法

光学传感器：CCD线性传感器

图像分辨率：20000 * 20000

光学平台：220mm * 300mm

背景光源：反射光

工作环境：5～35℃（温度）, ＜85%（相对湿度）

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